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                    金屬鍍層測厚儀器

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                    XU-100鍍層測厚儀

                    型號:XU-100

                    XU-100光譜測厚儀采用下照式C型腔體設計,搭配微聚焦X射線發生器和高集成垂直光路系統,以及高敏變焦測距裝置,對各種大小異形件都可快速、精準、無損測量。?檢測各種金屬鍍層,檢出限可達0.005μm,最小測量面積0.2mm²,凹槽深度測量范圍可達0-30mm,是一款測量鍍層厚度性價比高、適用性強的機型。

                    1.下照式設計?

                    可以快速方便地定位對焦樣品。?

                    2.高精密微型移動滑軌

                    快速精準定位樣品。

                    3.?微焦X射線裝置

                    ?最小檢測面積可達0.2mm²的樣品,可進行各類電鍍層膜厚檢測。?

                    高效率正比接收器即使測試0.2mm²的樣品,幾秒鐘也能達到穩定性。

                    4.?變焦裝置算法

                    ?可對各種異形凹槽進行檢測,凹槽深度測量范圍可達0-30mm。?

                    5.先進的EFP算法

                    ?多層多元素,包括有同種元素在不同涂鍍層的檢測,都可以快、準、穩的做出數據分析。

                    最小檢測面積:0.2mm²
                    可檢測0-30mm凹槽異形件
                    涂鍍層最低檢出限:0.005μm
                    電鍍層分析,緊固件行業,五金行業,汽車零部件,配飾厚度分析,電子元器件等
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